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场发射透射电子显微镜（冷场）

FieldEmissionTransmissionElectronMicroscopy（ColdField）

仪器型号：JEM-F200

生产厂家：日本电子公司

主要技术指标：

1、TEM点分辨率：≤0.23nm@200kV

2、TEM线分辨率：≤0.10nm@200kV；≤0.14nm@80kV

3、STEM分辨率：≤0.16nm

4、EDS元素分析范围：4B至92U；能量分辨率：≤133eV(Mn-Ka)

5、TEM/STEM/EDS模式三维重构功能；倾转角度≥±80°

应用领域：

1、形貌表征；2、能谱分析；3、三维重构。